XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计，测角仪扫描半径可在150～285mm范围内连续可调。该功能使得用户可以在仪器测角分辨率和测试衍射线强度之间进行均衡选择，自行设定需要的试验条件，满足不同情况试验需求。为了提高实验效率，XD6提高了快速转动速度，达到1800°/min。
结构新，采用先进的立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。
采用细分驱动电源技术，精度高，重现性达到0.0005°、测量重复性0.001°、zui小步进角度0.0001°,扫描半径连续可调；
进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长期使用稳定性好；
X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度更快，故障率更低，射线阻断性更好，机柜外辐射剂量低于0.2μSv/h（国标规定要求低于2.5μSv/h）；
X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率*由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠；
中文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包。在数据输出多样性方面作了重大改进。
配置名称 | XD6 | |
X射线管 （Cu靶国产） | 种类 | Cu靶，NF型（其它靶材可选） |
功率 | 2.0kW | |
焦点 | 1.0×10mm2 | |
X射线发生器 | zui大输出 | 4KW |
X光管电压 | 15~60kV，1kV /Step | |
X光管电流 | 6~80mA，1mA /Step | |
管电压、管电流稳定度 | ≤0.01％（电源低压浮动10％） | |
测角仪 | 测角仪结构 | θs－2θd(XD2) θs－θd(XD3) |
测角仪扫描半径 | 150～285mm连续可调 | |
扫描角度范围 | -30~80°（θs） -30～160°（θd） | |
工作方式 | 连续扫描、定时步进扫描、定数步进扫描 | |
连续扫描速度 | 0.125～120°/min | |
zui高转速 | 1800°/min | |
2θ角重复精度 | ≤0.0005° | |
zui小步进角度 | 0.0001° | |
测量准确度 | ≤0.001° | |
发散狭缝（DS） | 1/6°、1/2°、1°、2° | |
防散射狭缝(SS) | 1/2°、1°、2° | |
接收狭缝(RS) | 0.1，0.15，0.3，0.45，0.6，1，2mm | |
调整狭缝 | 0.02mm | |
检测器 计数器 | 晶体类型 | NaI |
脉冲幅度分析器（HV/PHA） | 输出高压0～1000V，稳定性≤0.01％（8h） | |
机柜 | 机柜尺寸（mm） | 1200（长）×400（宽）×1850（高） |
整机重量（kg） | 500 | |
观察窗（mm） | 600（高）×400（宽）×10（厚）铅玻璃 | |
X射线泄露量 | ≤0.1μSv/h（未扣除天然本底） | |
安全措施 | 门联锁保护（门到位置，光闸才打开，产生X射线） | |
滤波器 | Ni滤片 | 对应Cu靶 |
石墨弯晶单色器 | 反射效率η≥28％ | |
综合指标 | 整机综合稳定度 | ≤0.3％ |
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